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當前位置：首頁產品中心光學測量儀器光束/光斑質量分析儀

  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產品型號：BeamOn U3-E
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  • Beam 1550.國產光束質量分析儀Beam 1550

    國產光束質量分析儀Beam 1550 筱曉自主研發國產光束質量分析儀Beam VIS/Beam 1550，默認波長范圍190-1150nm。具有高分辨率，這款分析儀小巧輕便，便于安裝在狹小和封閉環境中。

    更新時間：2025-09-25
    產品型號：Beam 1550.
    瀏覽量：1676
  • Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)

    Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統，用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。

    更新時間：2026-06-22
    產品型號：
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  • TaperCamD-LCM.TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm

    TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm 應用領域 連續和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄

    更新時間：2024-12-06
    產品型號：TaperCamD-LCM.
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  • WinCamD-LCM-TEL 相機型光斑分析儀 (1480-1605nm)

    WinCamD-LCM-TEL 相機型光斑分析儀 (1480-1605nm) 產品總覽 1”CMOS 光束分析照相機，超高速USB 3.0，190-1605nm，有效面積11.3×11.3 mm，4.2 MP，5.5×5.5 μm像素點，光和電雙觸發的全局快門，頻率更新至60Hz，WinCamDTM-LCM系列是連續和脈沖激光光束分析的理想工具。

    更新時間：2026-05-08
    產品型號：
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