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P760/01_2760nm單模垂直腔面發(fā)射激光器
RFLDM-RF射頻激光二極管驅(qū)動(dòng)(控制/電源)
IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X3.0mm(晶體/棱鏡
截止波長(zhǎng)1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
2x4 QPSK C波段相干混頻器(信號(hào)解調(diào)/鎖相放大器等)
Frequad-W-CW DUV 單頻連續(xù)激光器 213nm 10mW Frequad-W
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
日本精工法蘭FC/UPC(連接線)
CO2激光光譜分析儀
WISTSense Point 緊湊型高精度光纖傳感器解調(diào)儀(信號(hào)解調(diào)/鎖相放大器等)
超高功率光束質(zhì)量分析儀
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 (色散勻化片)
S+C+L波段 160nm可調(diào)諧帶通濾波器
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產(chǎn)品中心
光學(xué)測(cè)量?jī)x器
product
產(chǎn)品分類2000nm近紅外物鏡(相機(jī)) 在1000-2000nm附近具有高透射率的物鏡。用于半導(dǎo)體器件故障分析,以檢測(cè)漏電流發(fā)出的極微弱發(fā)射。當(dāng)紅外光從芯片背面穿過硅時(shí),可以很好地觀察到高度集成和多層布線的半導(dǎo)體。 注:硅校正鏡片也可提供。
更新時(shí)間:2026-01-13
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h.n·u· TDI(相機(jī)) 時(shí)間延遲積分(TDI)原理:這是一種基于累積曝光概念的讀出模式,攝像機(jī)同步將電荷從一行轉(zhuǎn)移到下一行,速度與物體在檢測(cè)器下方的運(yùn)動(dòng)速度相同,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)同一物體的多次曝光積累。為高靈敏度時(shí)間延遲積分模式(TDI),低光成像的新標(biāo)準(zhǔn),NÜVÜ™ TDI攝像機(jī)優(yōu)化用于要求苛刻的掃描應(yīng)用。
更新時(shí)間:2026-01-13
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標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)(相機(jī)/鏡頭) 本系列為半復(fù)消色差設(shè)計(jì),兼顧了長(zhǎng)工作距離與緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),齊焦距離統(tǒng)一為 45mm,適用于標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)顯微檢測(cè)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2026-06-02
產(chǎn)品型號(hào):
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SK010PA-UV+ 紫外波段偏振分析儀 350-450nm 采樣速率15 Hz SK010PA-UV+系列偏振分析儀是一種通用的測(cè)量和測(cè)試系統(tǒng),用于將激光束源耦合到保偏光纖中。可在波長(zhǎng)低至350納米的情況下工作。
更新時(shí)間:2025-11-12
產(chǎn)品型號(hào):SK010PA-UV+.
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V330紅外成像氣體泄漏 3.2-3.5um 中紅外/熱紅外相機(jī) V330具有優(yōu)秀的氣體泄漏檢測(cè)能力。它可以追蹤甲烷、乙醇、汽油、苯等400多種VOCs氣體的Min. 泄漏值。相機(jī)的光譜響應(yīng)為3.2μm~3.5μm。 憑借HOT MWIR OGI紅外探測(cè)器,V330使用戶能夠快速定位故障并清晰地看到泄漏氣體。V330還可以快速掃描大面積并實(shí)時(shí)定位泄漏。它非常適合于使用接觸式測(cè)量工
更新時(shí)間:2026-09-28
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